射线荧光镀层厚度测试仪 XDLM系列

参考信息

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技术参数

1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法； 

2.原始射线从上至下； 

3.微聚焦X-射线管高压设定可调节至*佳的应用：50kV，40kV或30kV； 

4.标准视准器组：圆形0.1/0.2/0.3和长方形0.05X0.3mm； 

5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大约为105kg（120lbs）； 

6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）带向上回转箱门； 

7.嵌入式固定的测试件支承板，需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件； 

8.电机驱动的144mm（5.7〞）X-射线头部（X-射线管，比例接收器及视准器）的Z轴运行； 

9.试件查看用彩色摄像机 

10.测量开始/结束按钮，X-射线头部上/下按钮及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。 

主要特点

FISCHERSCOPE? XDLM?-C4 是一款基于Windows? 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。 

微聚焦X-射线管以及电机带动的有4个不同尺寸视准器组成的视准器组使得XDLM?-C4成为测量大批量生产部件的理想测量仪器，例如螺丝，螺母和螺栓。可选择的钴接收器有效地解决铜上镀镍的测量应用问题 

XDLM?的特色是独特的距离修正测量方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别，简便了测量复杂几何外形的测试工件和在不同测量距离上的测量。 

与WinFTM? V.6软件及校样标准块Gold Assay结合，XDLM?作为FISCHERSCOPE? GOLDLINE ASSAY的一部分， 完美地适用于快速，非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。 

仪器介绍

适用于Windows?2000或选择适用于Windows? XP的真Win32位程序带在线帮助功能 

频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用 

能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化 

画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离） 

图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中 

对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法）范围可达80mm(3.2〞) 

测量模式用于： 单、双及三层镀层系统 

         双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 

         双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度 

         和合金成分都能被测量) 

能分析多达四种金属成分的合金，包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。 

可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。 

通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。 

可编程的应用项图标，用于快速产品选择。 

完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估。 

报告生成，数据输出 

语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文 

菜单中的某些选择项可授权使用

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