比表面积测定仪精微高博微孔分析 JW

参考信息

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比表面积测定仪功能
比表面测定: BET(单点、多点)比表面、Langmuir比表面、外表面测定;
BJH孔径分布测定: 总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布;
微孔常规分析: 微孔总孔体积、总内表面积(t-图、D&R、MP等)
微孔孔径分布分析: 氮分压10-8 - 10-1范围的等温吸附曲线测定 0.35 - 2nm微孔孔径分布测试(HK、FS、NLDFT法

比表面积测定仪技术参数
比表面积测定仪原理方法: 低温氮吸附,静态容量法
比表面积测定仪吸附气体: 高纯氮气,也可用氪、氦、二氧化碳等其他气体
比表面积测定仪极限真空: ≤ 10-6 Pa ( 7.5×10-9 Torr)
比表面积测定仪氮气分压: 1×10-8 –0.995
比表面积测定仪控制精度: 测试压力点控制*小间隔可小于0.1 KPa (0.75 Torr) ,测试压力点可多达一千个
多级压力传感器压力测试精度达0.0001Pa (7.5×10-7 Torr)
10-8-10-1范围测试压力点大于50点
比表面积测定仪测试范围: 比表面 ≥ 0.005 M2/g,无规定上限
介孔孔径分析 2 - 400nm
微孔孔径分析0.35 - 2nm
比表面积测定仪测试精度: ≤±1.5%
0.35-2nm 微孔*可几孔径重复误差 ≤0.01nm
比表面积测定仪测试效率: 多点BET比表面每样平均20min
孔径分析时间随材质不同各异
比表面积测定仪预 处 理: 两样品同位处理,真空低于0.1Pa, 温度50 - 400℃,±1℃
比表面积测定仪专用软件: BET(单点、多点)、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、
HK、FS、NLDFT等

比表面积测定仪特色
◎ 比表面仪具有国内唯一可以精确测定微孔孔径分布的仪器,控制和测试精度达到国际先进水平,
工作站数量可根据用户要求单独设计、制造,可以代替进口;
◎ 比表面仪具有真空度高,比表面和孔径分析的范围更宽,精度更高;
◎ 比表面仪具有独有的抽气与充气速度精密控制技术,保证了测试的准确性和安全性;
◎ 比表面仪具有独特的液氮面多途径控制与校正技术,连续测试10小时也不需添加液氮;
◎ 比表面仪具有微孔常规测试有完善的标准等温线数据库和规范的分析方法,国内领先;
◎ 比表面仪具有国内唯一拥有微孔分布测试的软件技术(HK、FS、NLDFT等)
◎ 比表面仪具有专用软件功能齐全、界面友好、操作方便、实时显示样品的吸、脱附压力变化及平衡过程;
◎ 比表面仪具有试验全过程自动化、智能化控制,长时间运行可以无人职守;

应用领域:吸附剂(如活性碳,硅胶,活性氧化铝,分子筛,活性炭,硅酸钙,海泡石,沸石等);陶瓷原材料(如氧化铝,氧化锆,硅酸盐,氮化铝,二氧化硅,氧化钇,氮化硅,石英,碳化硅等);橡塑材料补强剂(如炭黑,白碳黑,纳米碳酸钙,碳黑,白炭黑等);电池材料(如钴酸锂,锰酸锂,石墨,镍钴酸锂,氧化钴,磷酸铁锂,钛酸锂,三元素,三元素材料,聚合物,聚合物材料,聚合物电池材料,碱锰材料,锂离子材料,锂锰材料,碱性材料,锌锰材料,石英粉,镁锰材料,碳性材料,锌空材料,锌汞材料,乙炔黑,镍氢材料,镍镉材料,隔膜,活性物资,添加剂,导电剂,缓蚀剂,锰粉,电解二氧化锰,石墨粉,氢氧化亚镍,泡沫镍,改性石墨材料,正极活性物质,负极活性物质,锌粉等);金属氧化物(如氧化锌,氧化钙,氧化钠,氧化镁,氧化钡,氧化铁,氧化铜等);磁性粉末材料(如四氧化三铁,铁氧体,氧化亚铁等);纳米金属材料(如纳米银粉,铁粉,铜粉,钨粉,镍粉,铝粉,钴粉等);环保行业(如颜填料,柱填料,无机颜料,碳酸钙,氧化硅,矿物粉,沉积物,悬浮物等);无机粉体材料(如氧化钛,钛白粉,二氧化钛等);纳米材料(如纳米粉体材料,纳米陶瓷材料等);稀土,煤炭,水泥,储能材料,催化剂(硅藻土),净化剂,助滤剂,发光稀土粉末材料,粉体材料,粉末材料,超细纤维,多孔织物,复合材料等粉体和颗粒材料的比表面积及孔径的检测分析,广泛适用于高校及科研院所材料研究和粉体材料生产企业产品质量监控.

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