红外光谱仪 Dimension IconIR

参考信息

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红外光谱仪 Dimension IconIR

产品介绍

布鲁克公司的大样本Dimension IconIR系统在*个平台上结合了纳米*红外光谱和扫描探针显微镜（SPM），为学术研究人员和工业用户提供了***的光谱、成像和属性测绘能力。IconIR融合了几十年的研究和技术**，在Dimension Icon?的行业*佳AFM测量能力的基础上，提供了无*伦*的性能。该系统能够实现相关的显微镜和*学成像，具有更*的分辨率和单层灵敏度，而其*特的大样本结构为*广泛的应用提供了终*的样本灵活性。

大样本

**性能的纳米红外光谱学

为各种样品类型和应用提供更多的灵活性和性能。

相互关联的

*学和纳米*属性图谱

提供定量的纳米*学、纳米力学和纳米电学数据。

亚10纳米

光热AFM-IR成像

实现了**分辨率的表征，具有单层敏感性。

在单*系统中，IconIR为纳米*红外光谱、*学成像分辨率和单层灵敏度提供**性能。

只有Dimension IconIR能提供。

具有准确和可重复的FT-IR相关的*性能纳米红外光谱，<10纳米的*学分辨率，以及单层灵敏度

**PeakForce Tapping?纳米力学和纳米电学模式进行相关的*学成像

**性能的AFM成像和无可比拟的样品灵活性，具有大样品适应性*。

*广泛的协调应用附件和AFM模式的可用范围

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