台式EDXRF光谱仪 Genius IF SDD

参考信息

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(1)、可对C(6)-Fm(100)(次ppm~100%)进行无损定性、定量分析；

(2)、采用专利WAG(Wide Angle Geometry)技术，配备8个二次靶；

(3)、8款管滤光片，更快更精确的测定微量及痕量元素；

(4)、标准配置硅漂移探测器SDD，适于高和低原子序数的元素分析检测；

(5)、针对轻原子序数元素，可配备分辨率达123eV的SDD LE探测器；

(6)、外型坚固耐用，适于移动实验室，符合冲击试验MIL810E规格；

(7)、检测光斑可变，适于不同尺寸和形状的样品检测；

(8)、配备集成电脑、专业nEXt?分析软件，操作方便；

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