薄膜测厚仪 M312572

参考信息

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技术参数：

量限:0-1mm

分度值:0.001mm 

上测头曲率半径:15-50mm 

测头对试样施加负荷:0.1-0.5N

测量精度: 100vm以内 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm 

执行标准:GB6672-86 

本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片). 

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