手动椭圆偏振测厚仪 EX1

参考信息

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声明：

特点

消光法椭偏测量原理

仪器采用消光法椭偏测量原理，易于操作者理解和掌握椭偏测量基本原理和过程。

方便的样品水平放置方式

采用水平放置样品，方便样品取放。

精巧的一体化结构

集成一体化设计，精巧的仪器外形，方便地显示仪器测量过程中的光强信息。

高准确性的激光光源

采用激光作为探测光波，测量波长准确度高。

实用的样品测量功能

可测量纳米薄膜的膜厚和折射率、块状材料的复折射率。

方便的仪器手动操作

可扩展的仪器功能

利用本仪器，可通过适当扩展，完成多项偏振测量实验，如马吕斯定律实验、旋光测量实、旋光等。

应用

技术指标

性能保证

• ISO9001国际质量体系认证下的仪器质量保证

• 专业的椭偏测量原理课程讲授

• 专业的仪器使用培训

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产品彩页

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温馨提示

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