X荧光测厚光谱仪 Thick 800A

参考信息

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性能和特点:满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
**度移动平台可*确定位测试点,重复定位*度小于0.005mm
***度定位激光,可自动定位测试*度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
*分辨率探头使分析结果更加*准
良好的射线屏蔽作用
测试口*度敏感性传感器保护


技术参数:型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 
*次可同时分析*多24个元素,五层镀层。
分析检出限可达2ppm,*薄可测试0.005μm。
分析含量*般为2ppm到99.9% 。
镀层厚度*般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互*立的基体*应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃*30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净*稳压电源。 
仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
重量:90 kg


标准配置

开放式样品腔。
*密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。 
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
*低压电源。
X光管。
*度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用*域
黄金,铂,银等贵金属和各种*饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和*饰加工行业;银行,*饰销售和检测机构;电镀行业。

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