超声波测厚仪 35RDC

参考信息

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所有型号的标准配置均包含声速和减缩率测量。

可测厚度范围宽：0.08 mm～635.0 mm(0.0030 in.～25.0 in.)，取决于仪器和材料。

采用接触式、延迟线式、水浸式探头。

自动调用功能可调用默认设置和自定义设置。

手持式，仅重0.24公斤(8.5盎司)。

*小/*大模式

高-低报警

英制和公制显示(英寸或毫米)

多种语言用户界面

长效电池

Panametrics 35型和35DL型

在大多数应用中都可应用35型和35DL型

35型和35DL型测厚仪使用频率范围为2.25～30 MHz的探头，因此这些通用型测厚仪可完成大多数从极薄到极厚材料的厚度测厚。一般来说，探头频率越高而直径越小，对较薄或弯曲的工件测量的精度越高。

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