科研级微分干涉显微镜 XJ-51DIC

参考信息

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产品概述

科研*微分干涉金相显微镜XJ-51DIC**优良的无限远光学系统与多功能、模块*的设计理念，带有偏光装置、微分干涉装置，可实现偏光观察、微分干涉观察等功能。紧凑稳定的*刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究。是金属学、矿物学、*密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。总放大倍数：50-800X

◆产品特点：

1、**了*为**的无限远光路设计，提供了**的光学系统。 

2、**大视野目镜和无限远长距平场物镜，视场平坦,成像清晰。 

3、整机**了防霉处理，保护了镜头，延长了仪器的使用寿命。

4、两路光路自由切换输出，*路用于观察，*路连接摄像装置。

◆典型应用： 

1、电子工业制造业对硅片、电路基板、FPD、PCB板、芯片检验，

2、TFT液晶显示屏导电粒子， 3、分析金属、矿相内部结构组织。

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