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产品概述
科研*微分干涉金相显微镜XJ-52DIC配有大范围移动的载物台、**优良的无限远光学系统与多功能、模块*的设计理念,带有偏光装置、微分干涉装置,可实现偏光观察、微分干涉观察等功能。紧凑稳定的*刚性主体,充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究,或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究。是金属学、矿物学、*密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。总放大倍数:50-800X。
◆产品特点:
1、**了*为**的无限远光路设计,提供了**的光学系统。
2、**大视野目镜和无限远长距平场物镜,视场平坦,成像清晰。
4、整机**了防霉处理,保护了镜头,延长了仪器的使用寿命。
5、两路光路自由切换输出,*路用于观察,*路连接摄像装置。
6、配有大范围移动的移动载物台,适合对大型工件观察和研究。
◆典型应用:
1、电子工业制造业对硅片、电路基板、FPD、PCB板、芯片检验,
2、观察材料表面的某些特性,3、分析金属、矿相内部结构组织。