激光颗粒分布测量仪 GSL-2000

参考信息

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GSL-2000激光颗粒分布测量仪是本公司在成型产品GSL-101BL基础上研制的改进型产品，器测量范围为0.08～1100μm，可以测量D50从100～200nm直至700～800μm的各种样品，测量范围宽，测量结果准确，稳定性良好，是一款具备极高性价比的激光粒度测量仪。

序号项目性能指标序号项目性能指标

1测量范围0.08～1100 微米7激光器半导体激光器，功率5mW

2重复性<±0.5%（标样，Dv50值）8通讯端口USB 接口

3复现性<±0.75%（标样，Dv50值）9进样方式微量进样装置

4系统误差<±1%（标样，Dv50值）10样品池容积40 ml

5测量原理全程Mie散射理论11搅拌速度100～800转/分钟，连续可调

6采样通道前向70通道，侧、后向10通道12外形尺寸675x318x240（mm）

准确性好GSL-2000原理图

    测量原理为全程Mie Scattering理论及Fraunhofer Diffraction理论，结合本公司独特的自由模式计算算法，精密的机械、光学系统设计、先进的电子元器件，在理论和性能上保证了测量结果的准确性。

测量范围宽

    前向散射光接收采用本公司专利技术交叉扇形大尺寸主光电探测阵列，共70个采样通道、高灵敏度双侧向光电探测阵列6个通道，后向4个通道，散射光*大接受角度为137°，使单透镜测量范围达0.08～1100μm，测量范围宽，可以满足大多数用户对粒度测量范围的需要。

重复性好

    仪器光电转换器采用专利高灵敏度光电探测阵列，光电信号经低噪声放大器放大，并采用高位模拟数字转换器，保证硬件电路部分极低的噪声。仪器使用进口半导体激光器作为光源，及本公司自行研制的准直系统，激光光斑能量分布均匀，形状规则，进样系统具有转速调节装置，保证样品均匀分布。以上种种措施保证仪器测量结果具有良好的重复性指标。

测试速度快微量参数

    高速采样系统，采样速度达到5000次/秒；全隔离USB2.0通讯接口，提高了通讯速度；采用微量进样系统，样品制备过程简单，清洗速度快。一般在20秒之内，就可以完成一次测试过程。

测量软件功能完备

    仪器采用电脑进行实时控制，自动完成数据采集、分析处理、结果保存和打印等功能,操作简单,自动化程度高。测量软件具有SOP功能，数据库功能以及多种数学模型，功能完备，操作简单，易学易用。

1.基本功能：样品测试、保存/打印、分析报告等。

2.高级功能：

  1)sop功能：对常用的样品制备方式、样品参数、分散剂参数、测试参数等数据进行归纳，保存成SOP文件，如需要对此样品进行测试，可以直接调用此SOP文件并启动SOP测量方式，方便用户测量，无需另行输入相关测试参数。

  2)自动标定系统：激光颗粒分布测量仪具有国内独创的数据自动标定系统，本系统可根据已知的标准样品的数据，对仪器进行自动标定。

  3)数据库功能：可将常用的样品及分散剂折名称、折射率、吸收率、样品的制备信息等保存到数据库中，以方便下次直接调用，无需另行输入。

  4)截图功能：若仪器出现故障导致采样图形杂乱，可截取当前状态屏幕图像传给调试工程师，方便指导故障排除及维修。

3.报告存储模式：专用的GSL格式（仅限测试软件打开）、PDF格式、BMP格式。

4.语言：中、英文切换。

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