正置(明暗场)芯片检查显微镜 8XB-PC

参考信息

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8XB-PC正置(明暗场)芯片检查显微镜

产品用途

正置(明暗场)芯片检查显微镜广泛的应用于透明，半透明或不透明物质，比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹，都能有很好的成像效果。

产品特点

采用了UIS高分辨率、长工作距离无限光路校正系统的物镜成像技术。

拓展了物镜的复用技术，无限远物镜与所有观察法相兼容包括明暗视野法、偏光法，并在每一观察法中均提供高清晰的图像质量。

采用非球面Kohler照明，增加观察亮度。

WF10X（Φ25）超大视野目镜，长工作距离明暗场金相物镜。

显微镜技术规格

1.镜筒：30°倾斜 

2.高眼点目镜：WF10X/Φ25mm 

3.无限远长工作距离明暗场物镜：5×/0.1B.D/W.D.29.4mm 

                            　10×/0.25B.D/W.D.16mm

                            　20×/0.40B.D/W.D.10.6mm

                        　    40×/0.60B.D/W.D.5.4mm（选购）

50×/0.55B.D/W.D.5.1mm 

                           　 100×（干）/0.80B.D/W.D.3mm（选购）

4.转换器：五孔 

5.工作台尺寸：311mm*352mm，移动范围：250mm×250mm 

6.调焦：粗微动同轴，范围36mm，微动0.002mm 

7.光源：垂直照明，带孔径光栏和视场光栏，卤素灯12V/100W，AC85V-230V亮度可调节

8.DIC装置：偏光装置、明暗场转换 

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