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XTL302-DIC微分干涉相衬金相显微镜
一、用途介绍:
XTL-302DIC正置微分干涉相衬金相显微镜适用于对不透明物体的表面形态进行反射式微分干涉相衬观察,也可对透明物体进行透视显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察、微分干涉相衬观察等功能,紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。适用于金相组织及表面形态的显微观察,是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。
二、产品特点:
采用优良的无限远光学系统,可提供卓越的光学性能。
紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。
大行程机械移动载物平台,适合于大试样显微观察或多试样快速检测。
模块化的功能设计,可以方便升级系统,实现偏振观察、微分干涉相衬观察等功能。
符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。