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VM4600M 三目正置大平台金相显微镜配有大范围移动的载物台、柯拉落射照明系统、长距平场物镜、大视野目镜,图像清晰、衬度好,同时配有偏光装置,可实现偏光观察。适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别,电子芯片的检查或用于观察材料表面特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等及纺织**、*学颗粒的分析研究。是生物学、金属学、矿物学、*密工程学、电子学等研究的理想仪器。VM4600M可放大50-800倍。
VM4600M 主要性能特点:
系统配置了大尺寸、大范围移动载物台,适合大工件的检查
两路光路自由切换输出,*路用于观察,*路连接摄像装置,并配有偏光装置