镀层测厚仪器 E8-SPR

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描述： 

        专业的镀层测厚仪器HeLeeX E8-SPR是一款高性能能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF)，与普通EDXRF相比，分辨率高，其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF尖端技术，核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF前沿技术，仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告； E8-SPR采用小光斑设计，多种工作模型供选择，测试数据更精确，更稳定。

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