统计型涂层测厚仪 LEPTOSKOP2042FE

参考信息

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　　◆　数据传输接口RS232 或　USB

　　◆　电源：电池、充电电池、USB或外接电源

　　◆　测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)

　　◆　测量速度:　每秒测量2个数值

　　◆　存储: *多 9999 个数值，140个文件

　　◆　误差:

　　涂层厚度 < 100 um: 1% 读数 +/- 1 um (校准后)

　　涂层厚度 > 100 um: 1-3% 读数 +/- 1 um

　　涂层厚度 > 1000 um: 3-5% 读数 +/- 10 um

　　涂层厚度 > 10000 um: 5% 读数 +/- 100 um

　　LEPTOSKOP2042涂层测厚仪附件：

　　试块和膜片

　　探头定位装置　(适用于微型探头)

　　定位辅助装置 (适用于微型探头)

　　电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理

　　电脑软件 EasyExport 用于把单独的读数或全部文件传输到Windows

-----------以上信息仅供参考不作为下单依据------------
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