涂层测厚仪 HS2100F型

参考信息

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概 述：

HS2100F/2100N/3100/4100涂层测厚仪本仪器是一种便携式测量仪,可以快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。配置不同的探头，适用于不同场合。是材料保护和生产控制必备仪器。

适用范围：

HS系列涂层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

主要功能：

1）可使用6种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)进行测量；

2）三种校准方法： 一点校准、二点校准、基本校准；

3）显示分辨率： 0.1μm（测量范围小于100μm）

                           1μm（测量范围大于100μm）

4）有两种工作方式：直接方式和成组方式

5）有两种测量方式：连续测量和单次测量

6）有两种关机方式：手动关机和自动关机

7）可设置限界：对限界外的测量值能自动报警，并可用直方图对一批测量值进行分析；

8）有删除功能：对粗大误差及错误设置可进行删除处理；

9）打印功能：可打印测量测量值、统计值、限界、直方图

测量范围：

1）F400探头、N400探头：0—400μm

2）F1探头、F1/90探头、N1探头：0—1250μm

3）F10探头：0—10000μm

4）CN02探头：10-200μm（根据测量要求选用不同探头）

测量精度：

不同探头精度要求不同

1）F400探头、N400探头：一点校准：（2%+0.７）；二点校准：（1%+0.７）

2）F1探头、F1/90探头、N1探头、CN02探头：一点校准：（2%+1）；二点校准：（1%+1）

3）F10探头：一点校准：（2%+10）；二点校准：（1%+10）

使用温度：0～40℃

外型尺寸：150×80×30m

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