单一涂层测厚仪 KY-8001

参考信息

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KY-8001单一涂层测厚仪

1）本仪器符合以下标准

GB/T 4956-1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度的测量（磁性方法）

GB/T 4957-1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量（涡流方法）

JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测厚仪

KY-8001单一涂层测厚仪

2）特点

便携设计，手掌大小

采用高速的DSP芯片，具有快速的测量能力

人性化设计，简单操作。

在双用探头时自动识别铁基和非铁基材质，无需手动转换

两种校准方式，零点校准和二点校准

宽角度LCD液晶显示

公制和英制单位转换

具有电源欠电压提示

操作过程有蜂鸣声提示

具有自动关机功能

KY-8001单一涂层测厚仪

3)测量原理

a)磁性法

当测头与覆层接触时，测头与磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆层的存在，使磁路磁阻发生变化，通过测量其变化量，可测得其覆层的厚度。

b)涡流法

利用高频交变电流线圈中产生一磁场，当测头与金属接触时，金属基体上会产生涡流，并对测头具有反馈作用，通过其反馈作用的大小可测出覆层厚度。

KY-8001单一涂层测厚仪

技术参数

● 测量范围：0-1500um

● 工作电源：两节五号电池

● 测量精误差：零点校准 ±（1.5+3%H）；二点校准±【（1%～3%H）】H+1.5

● 环境温度0-40℃

● 相对湿度≤85%

● *小基体10*10mm

● *小曲率凸5mm;凹5mm

● *薄基体：0.4mm

● 重量：240克（含电池）

● 尺寸150mm*74mm*32mm

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