芯片检测显微镜 DYJ-895

参考信息

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仪器简介

DYJ-895芯片检测显微镜可以用于对不透明试样的显微观察。采用性能优良的无限远光学系统，具有模块化功能设计方案，让使用人员方便升级显微观察系统，实现偏光观察、暗场观察，荧光观察等功能。紧凑稳定的高强度机身，充分考虑了显微操作时的防振要求。仪器采用人机工程学设计，在操作显微观察中方便舒适，空间更广阔。正置(明暗场)芯片检测显微镜大范围的应用于透明，半透明试样或不透明试样物质，比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹，都能有很好的成像效果。

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