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经典消光法椭偏测量原理
仪器采用消光法椭偏测量原理,易于操作者理解和掌握椭偏测量基本原理和过程。
方便安全的样品水平放置方式
采用水平放置样品的方式,方便样品的取放。
紧凑的一体化结构
集成一体化设计,简洁的仪器外形通过USB接口与计算机相连,方便使用。
高准确性的激光光源
采用激光作为探测光波,测量波长准确度高。
丰富实用的样品测量功能
可测量纳米薄膜的膜厚和折射率;块状材料的复折射率、样品反射率、样品透过率。
便捷的自动化操作
仪器软件可自动完成样品测量,并可进行方便的测量数据分析、仪器校准等操作。
安全的用户使用权限管理
软件中设置了用户使用权限(包括:管理员、操作者等模式),便于仪器管理和使用。
可扩展的仪器功能
利用本仪器,可通过适当扩展,完成多项偏振测量实验,如马吕斯定律实验、旋光测量实、旋光等。
项目 | 技术指标 |
仪器型号 | EX2 |
测量方式 | 自动测量 |
样品放置方式 | 水平放置 |
光源 | He-Ne激光器,波长632.8nm |
膜厚测量重复性* | 0.5nm (对于Si基底上100nm的SiO2膜层) |
膜厚范围 | 透明薄膜:1-4000nm 吸收薄膜则与材料性质相关 |
折射率范围 | 1.3 – 10 |
探测光束直径 | Φ2-3mm |
入射角度 | 30°-90°,精度0.05° |
偏振器方位角读数范围 | 0-360° |
偏振器步进角 | 0.014° |
样品方位调整 | Z轴高度调节:16mm 二维俯仰调节:±4° |
允许样品尺寸 | 样品直径可达Φ160mm |
配套软件 | * 用户权限设置 * 多种测量模式选择 * 多个测量项目选择 * 方便的数据分析、计算、输入输出 |
*大外形尺寸 | 约400*400*250mm |
仪器重量(净重) | 约20Kg |
选配件 | * 半导体激光器 |
ISO9001国际质量体系下的仪器质量保证
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