中红外光谱椭偏仪(不带FTIR) SENDIRA-F

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中红外光谱椭偏仪具有大面积水平样品台，马达驱动可变入射角度，支持样品水平扫描，吹氮气去水蒸气保护红外光学透镜。提供新材料如有机物半导体, OLED和有机物光谱范围内振动光谱的优良结果。提供复杂多层膜上化学、机械、电气、光学信息。即可作为研发工具，也可作为质量控

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