在线薄膜测量系统 ETSys-Map

参考信息

-----------以下"在线薄膜测量系统 ETSys-Map"相关信息来自网络,仅供参考不作购买下单依据------------

性能特点如下：ETSys-Map是针对*端纳米薄膜研发和质量控制*域中大面积样品检测专门设计的在线薄膜测量系统。
ETSys-Map用于对1.4m * 1.1m及以上的大面积样品进行在线检测。可测量光滑平面基底上的纳米薄膜，包括单层或多层纳米薄膜样品的膜层厚度、折射率n和消光系数k；并可同时测量块状材料的折射率n和消光系数k。可测量样品上指定区域的样品参数以及样品表面的均*性分布。
ETSys-Map融合量拓科技在**度激光椭偏仪的**技术和产品设计方面的经验，性能**。

*特点：微米量*的**积扫描*度
**的系统设计，能够使探头到达样品上每个点，扫描*度达到微米量*。
原子层量*的膜厚分析*度
**非接触、无**性的椭偏测量技术，对纳米薄膜达到**的测量准确度和灵敏度，膜厚测量灵敏度可达到0.05nm。
简单方便**的仪器操作 
用户只需*个按钮即可完成复杂的材料测量和分析过程，数据*键导出。丰富的模型库、材料库方便用户进行**测量设置。
大面积样品上全表面测量  
可对1.4m*1.1m及以上的大面积薄膜样品各点的性质进行分析和比较。

*应用：ETSys-Map适合于**度要求的大面积纳米薄膜研发和质量控制。
ETSys-Map可用于测量大面积的纳米薄膜样品上单层或多层纳米薄膜层构样品的薄膜厚度、折射率n及消光系数k；同时用于块状材料
ETSys-Map可应用于：
大面积液晶显示屏上的镀层测量
大面积半导体芯片的薄膜测量
大面积低辐射玻璃（LOW-E）的镀膜（ZnO,SnO2,TiO2,Ag）测量
大面积金属上纳米薄膜测量
大面积的光学薄膜（TiO2，SiO2等）测量

技术参数：

项目	技术指标
系统型号	ETSys-Map
结构类型	在线式
激光波长	632.8nm (He-Ne laser)
膜厚测量重复性（1）	0.05nm (对于Si基底上100nm的SiO2膜层)
折射率n测量重复性（1）	5x10-4  (对于Si基底上100nm的SiO2膜层)
结构	PSCA
激光光束直径	~1 mm
入射角度	65°-75°可选
样品放置	放置方式：水平 *动：X轴单方向*动 *动范围：>1.4m 三维平移** 二维俯仰** 可对样品进行扫描测量
样品台尺寸	1.4m*1.1m，并可定制。
测量速度	典型0.6s-4s /点（取决于样品种类及测量设置）
*大的膜层厚度测量范围	粗糙表面样品：与绒面物理结构及材料性质相关 光滑平面样品：透明薄膜可达4000nm，吸收薄膜与材料性质相关
选配件	样品监视系统 自动样品上片系统

注：（1）测量重复性：是指对标准样品上同*点、同*条件下连续测量25次所计算的标准差。

*性能保证：*稳定性的He-Ne激光光源、**度的采样方法以及低噪声探测技术，保证了系统的*稳定性和*准确度
稳定的结构设计、可靠的样品方位对准，结合**的采样技术，保证了快速、稳定测量
*体*集成式的结构设计，使得系统操作简单、整体稳定性提*
*键式软件设计以及丰富的物理模型库和材料数据库，方便用户使用

*可选配件：NFS-SiO2/Si二氧*硅纳米薄膜标片
NFS-Si3N4/Si氮*硅纳米薄膜标片

-----------以上信息仅供参考不作为下单依据------------
如果您需要在线薄膜测量系统 ETSys-Map的 【产品详细描述】、【产品资质证件】、【技术参数】、【产品宣传彩页】，请至电400-034-1688主动索取！

产品彩页

在线薄膜测量系统 ETSys-Map彩页仅供寰熙会员浏览，非会员请至电400-034-1688 索取。

温馨提示

1.该产品(在线薄膜测量系统 ETSys-Map)可能含有禁忌内容或者注意事项，具体详见说明书；
2.购买在线薄膜测量系统 ETSys-Map或家用医疗器械，消费者应仔细阅读产品说明书或者在医务人员的指导下购买和使用；
3.以上产品内容均来自于生产厂家、代理商网站不作为宣传购买依据如与产品说明书有冲突的，均以产品说明书为准；

4.本站医疗产品仅供有资质医疗机构的选用，不对个人用户销售,不可在线购买；

5.在线薄膜测量系统 ETSys-Map参考信息中涉的配件品牌生产批次不同生产厂家存在更新或替换的可能性,具体实物为准。