X射线微焦点无损检测仪器 SMX-1000L

参考信息

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仪器简介：

可用于高密度封装基板和BGA、CSP、系统LSI等键和情况的高倍率非破坏透视检查，特别适合于IC封装检查、元器件生产和PCBA等产品。另外，SM-1000L适合于检查大尺寸基板和连续检查大量零部件。

详情请访问岛津网页：http://www.shimadzu.com.cn/ndi/ndi-series/smx-1000.html

技术参数：

	SMX-1000	SM-1000L
焦点尺寸	5μm
载物台尺寸	350X400mm	570X670mm
可搭载重量	5Kg
*高电压	90kv
输入电压	AC100V1KVA
主机重量	约500kg	约950kg

主要特点：

SMX-1000/1000L是操作简便灵敏实用的多功能小型X-ray检测设备，采用了FPD（数字式平板检测器）和密封式微焦X-射线管的组合结构，可以观察到没有变形和重影且清晰的图像。另外，新开发的应用软件可以对样品根据检查需要的进行条件设定，使操作更为简便，从而大大提高检查效率。各种完备的功能使操作更加简便。

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