干涉仪 WLI RING

参考信息

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性能和特点:

WLIRAD测量系统主要用于表面形貌和粗糙度特征的快速准确测量(计算粗糙度数据),测量圆柱类工件内外表面的微观结构和表面特征。以扩展的显微三维测量模式为特征,有多种选项如:放大、标记无效数据点等多种测量磨损。本仪器为用户提供*佳图像分辨率,自动运行测量和评估程序,在被测面所有方向生成轮廓线。可选配软件模块测量圆度、粗糙度和圆柱度,测量头也可集成在生产线上使用,测头固定不动,工件可以移动或静止不动。

对内外层都可进行测量

光滑粗糙表面都可进行测量

测量结果不受工件的颜色和材料影响

数秒内进行快速测量

用于在线测量的OEM测量头

技术参数:

光源:                                    LED

垂直分辨率(nm)              <1

水平分辨率(μm)              ≥1

焦距,大约(mm)               1

测量区域的尺寸:               由物体决定

图像尺寸(Pixel)              1000×1000

移动平台

Z轴(mm)                         10～50 

步进速度(μm/min)           1         

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